표면거칠기 필터링 예제_1
예제 1) 큰 면적 연마판: 완만한 출렁임이 있는 표면
👉 결론: 이 경우 λc 선택은 **품질관리 목적(접촉/마찰 vs 외관/반사)**에 맞춰야 합니다.
예제 2) 광학 비접촉 3D 측정: 데이터가 아주 촘촘하고 노이즈가 섞임
👉 결론: 광학은 특히 λs가 ‘신뢰성 스위치’ 역할을 함.
예제 3) 같은 시편인데 장비 A(2RC), 장비 B(위상보정)
👉 결론: 장비 비교/납품 스펙 관리는 “λ 값 + 필터 타입 + 평가 길이”를 세트로 고정해야 안전합니다.
예제 4)
먼저 가상의 동일한 표면을 하나 정합니다.
👉 표면은 동일하고
👉 필터 값만 바꿉니다
1) 원시 데이터 (Traced profile)
측정기로 얻은 가공면 원시 프로파일에는 아래가 모두 섞여 있습니다.
2) λs 적용 → Primary profile
λs = 2.5 µm 적용 (초단파 제거)
📌 이 단계에서는 파라미터를 주로 계산하지 않음 (P-parameter는 참고용)
3) 핵심 예제 : λc 값만 바꿔보기
🔹 Case A : λc = 0.8 mm (작은 컷오프)
👉 거칠기로 인정하는 파장 범위가 좁음
결과 (예시 숫자)
파라미터 | 값 |
Ra | 0.42 µm |
Rq | 0.53 µm |
Rz | 2.8 µm |
RSm | 0.18 mm |
📌 해석
🔹 Case B : λc = 2.5 mm (표준 컷오프)
👉 일반적인 산업 표준 조건
결과 (예시 숫자)
파라미터 | 값 |
Ra | 0.78 µm |
Rq | 0.96 µm |
Rz | 5.6 µm |
RSm | 0.42 mm |
📌 해석
🔹 Case C : λc = 8.0 mm (큰 컷오프)
👉 완만한 출렁임까지 거칠기로 포함
결과 (예시 숫자)
파라미터 | 값 |
Ra | 1.35 µm |
Rq | 1.62 µm |
Rz | 9.8 µm |
RSm | 1.20 mm |
📌 해석
표면은 똑같은데, λc만 바꿨을 뿐인데 Ra가 0.42 → 0.78 → 1.35 µm로 변했습니다.
✔ Ra는 “절대값”이 아닙니다
✔ Ra = 표면 + 필터 조건의 결과값

그림 해석
4) λs를 잘못 쓰면 생기는 문제 (광학 측정 예)
같은 표면, 같은 λc = 2.5 mm
조건 | Ra |
λs 미적용 | 1.05 µm |
λs = 2.5 µm 적용 | 0.78 µm |
📌 이유
👉 광학 측정에서 Ra가 이상하게 큰 경우의 80% 원인
5) λf는 언제 중요해지나?
예:
Summary
필터 | 역할 | 값 바꾸면 생기는 변화 |
λs | 노이즈/초단파 제거 | Ra 안정성 ↑ |
λc | Roughness–Waviness 경계 | Ra, Rq, Rz 크게 변함 |
λf | Form–Waviness 경계 | W-parameter 해석 변화 |
데이터가 상이 할 때 체크 포인트
1. Ra가 달라졌다면, 먼저 표면이 아니라 필터 조건을 의심하라
2. λc는 “거칠기의 정의” 그 자체다
3. 비교·규격·납품에서는 λ값 + 필터 종류 + 평가길이를 반드시 고정해야 한다
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