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제품정보

전자현미경

Tabletop Scanning Electron Microscope

SNE-Alpha

Resolution

Resolution

5nm

Resolution

Magnification

250,000x

Measurement

Measurement

2D 측정 / 성분분석

주요특징

1 동급최고 Stage Navigation 기능

  • 5um 이하의 고정밀 Stage Navigation 기능으로 더블 클릭으로 위치 이동
  • 동급 유일 5축 모터 스테이지 장착으로 사용상 편리성 증대

2 보다 빠른 샘플 준비 시간

  • Vacuum : 90sec, Vent : 15sec
  • 기존 모델 대비 50% 감소

3 사용자 편의 기능

  • Navigation 이미지 자동 캡쳐
  • 도어 담힘 시 자동 진공 설정

4 New 3세대 소프트웨어 탑재

  • Auto focus 기능개선
  • Auto Gun Align 기능 추가

5 대면적 Scan과 3D 랜더링

6 EDS system

7 Ion Sputter Coater

시료에 금속(Au/Pt) 박막을 입혀 전도성을 부여 해주는 전처리 장비로 전도성이 증가된 시료 표면에 발생되는 2차 전자의 양을 증가시켜 선명한 영상을 획득할 수 있습니다. 비전도성 샘플은 Ion Sutter Coater 구비가 필요합니다.

Au Coating
Non Coating

주요사양

모델 ALPHA
Total Magnification 30x ~ 250,000x
Accelerating Voltage 1 / 5 / 10 / 15 / 20 / 30 kv (6 step)
Resolution 5 nm (30 kv, SE)
Electron Source Pre-centered Tungsten filament cartridge
Detector
Standard : Secondary Electron (SEI) Optional : Back scattered Electron (BSE)
Stage System Standard : X, Y, R, T, Z Fully Motorized system
Stage traverse X, Y : 40 mm / R : 360°, Z : 0 ~ 40 mm / T : -45 ~ 90°
Max. Sample Size
Up to 80 mm (Diameter) Up to 40 mm (Height)
Vacuum Mode High / Low (BSE mode)
Vacuum Pump Rotary Pump + Turbo molecular pump
Size / Weight SEM 300(W) X 460(D) X 600(H) mm (78 kg)
Control Unit 256(W) X 220(D) X 90(H) mm (4 kg)
otary Pump 400(W) X 160(D) X 340(H) mm (24 kg)
Optional Accessories BSE Back Scattered Electron Detector
EDS EDS system (Bruker, Oxford, EDAX)
Ion Sputter Coater Coating Target : Au, Pt