가성비 있는 금액으로 나노 스케일 3D 분석 및 측정!!!
제품정보
AFM
AFM (Atomic Force Microscope)
Scan Resolution
XY: 0.5nm Z : 10um
Measurement
3D 측정 / 표면 거칠기
주요특징
1 nGauge 원자현미경은 레이져가 없는 시스템
2 nGauge 원자현미경의 Tip은 내구성 있는 재료로 수명의 최대 수백에서 수천번의 스캔이 가능
3 샘플 로딩에서 2분 만에 3D 나노 스케일로 Full Scan
4 지형, 형태, 막두께, 거칠기 및 위상 데이터 수집
5 Ultra-low Tapping Force로 1000번 이상 측정 가능하며, 시료 손상이 없음
Automatic Sweep
원 클릭. 자동주파수 Sweep은 5초 안에 자동 완료
Automatic Approach
원 클릭. 10초 내에 자동으로 팁과 샘플의 접근 완료
Fast Scanning
원 클릭. 1분 이내에 통상적 스캔 캡쳐 완료
Nanopatterned polycarbonate film – 300 nm
AFM – SEM comparison
| Scan Size | 17.8 x 17.8 um |
|---|---|
| Resolution | 256 x 256 pixel |
| Scan time | 80 sec |
| RMS roughness | 623.9 nm |
| Mean roughness | 485.7 nm |
주요사양
| 모델 | AFM-on-a-Chip |
|---|---|
| Scan Type | Topography, Phase |
| Max. Scan Size | 20 μm x 20 μm |
| Min. Scan Size | 300 nm × 300 nm |
| XY Scanner Resolution | < 0.5nm |
| Vertical Scan Range | 10 μm |
| Noise floor | < 0.5 nm |
| Resolution and Speed / Sample | |
|---|---|
| Quick speed | 16 sec |
| Routine scan | 80 sec |
| High-Resol. Scan | 5 min |
| Max. Resolution | 1024 x 1024 pix |
| Sample Platform area | 100 x 50 x 12mm |
| Sample Weight | 1 kg |